pl_goraZ.png
Zdj2.png

Grupa badawcza — Polimery

Mikroskopia sił atomowych w trybach dynamicznych umożliwia obrazowanie nie tylko topografii badanych materiałów, ale również parametrów fizycznych i chemicznych warstwy powierzchniowej. Możliwe jest zlokalizowanie i scharakteryzowanie poszczególnych faz w materiałach kompozytowych, przy wielkości ziaren rzędu pojedynczych nanometrów i większych (rys. 1).

Technika nanoindentacji jest pokrewna do mikroskopi AFM i pozwala na oznaczanie ilościowe lokalnych parametrów mechanicznych powierzchni (moduł sprężystości, twardość). Niewielkie rozmiary wykonywanych indentacji (pomiar możliwy przy zagłębieniu próbnika w próbkę poniżej 100nm) pozwala na badanie cienkich warstw, pokryć oraz bardzo małych ziaren materiału.

Prowadzone badania obejmują między innymi:

  • badania wpływu promieniowania UV na właściwości mechaniczne i strukturę polimerów i kompozytów polimerowych  (PMMA, PPS, PS, PAA, PP, PLA, PET, PVC),
  • badania nanomechaniczne i AFM materiałów typu molecularly imprinted polymer films,
  • badania nanokompozytów na bazie pochodnych celulozy zawierających krzemionkę,
  • badania fotoindukowanych zmian w azobenzenie metodami nanoindentacji.

Badania prowadzone są za pomocą sił atomowych Nanosurf easyScan2 (WFT PP – rys. 2) oraz Veeco Multimode oraz nanoindentera Hysitron Triboscope (TFH-Wildau/Niemcy).

 Rys. 1. Obraz AFM wytrąceń wypełniacza w matrycy polimerowejRys.2. Mikroskop sił atomowych Nanosurf easyScan